1 范圍:
1.1 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。
1.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T 2423.24-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。
本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。
2 引用標(biāo)準(zhǔn):
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文,本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效,所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討下列標(biāo)準(zhǔn)版本的可能性。
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2試驗(yàn):試驗(yàn)方法 試樣Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射。 |